VSB黑体是设计用来在环境温度为-173ºC至-33ºC的冷却真空室中工作时,模拟低/中温目标(-10℃至+200℃)的面源黑体。换句话说,VSB黑体是用于在太空环境条件下,模拟地球上的温度目标。VSB黑体的发射器面积尺寸从50x50mm到150x150mm。发射器的温度由紧贴发射器的加热元件阵列来调节。使用超准确算法进行温度稳定控制。VSB黑体针对长距离控制进行了优化,位于真空室内的黑体可以从位于真空室外的PC控制。此外,黑体经过优化,可与MRW-8轮集成配套使用。电力设备巡检热像仪校准,明策系统降低因温度误差导致的故障漏判风险。上海热成像校准系统准不准
MAB黑体是在整个太赫兹和亚太赫兹频谱带中商用的并且具有高发射率的大面积宽带黑体。此黑体已经由Inframet研究团队进行了几年的实验研究。
MAB黑体有一系列的版本。有三个重要参数指标:黑体发射面的大小、光谱带和温度范围。发射面尺寸由黑体代码表示:MAB-XD其中X是发射器的平方近似尺寸,
单位为英寸。通常提供以下型号:MAB-6D,MAB-12D,MAB-16D,MAB-2oD,MAB-24,MAB-50。可以看出,MAB黑体提供大至1000x1000mm的发射器(型号MAB-50D)。MAB黑体可针对不同的光谱范围进行优化:A-从0.1mm到1mm(0.3-3THz);B-从0.5mm到4mm(75GHz-1.5THz);C-从2mm到10mm(30GHz-150GHz);D-从0.5mm到10mm(30GHz-1.5THz);E-从0.5mm到30mm(10GHz-1.5THz);ka-从7.5mm到1.1mm(26.5-40GHz)。 上海热成像校准系统准不准"精确热成像,基数参数一键优化,夜间监控无遗漏!
ST测试系统使用一系列不同的靶标来投影标准靶标图形到被测试的短波红外相机,短波红外相机生成畸变的靶标图像由计算机采集并由人眼主观或者软件来计算得到短波红外相机的重要参数。ST测试系统包括了反射式平行光管,带宽光源,中温黑体,旋转靶轮,一组靶标,一组滤波片,PC,图像采集卡以及测试软件组成。
特征:一、支持模拟三种不同的情况:1)反射多色辐射结构(系统采用SAL光源);2)发射辐射配置(系统采用MTB中温黑体);3)单色光源配置(SAL光源配置带通滤波器)。二、支持测试光学口径不大于100mm短波红外相机;三、支持模拟很暗的夜晚环境以及很亮的白天环境;四、支持模拟目标的温度可达600oC;五、模块:CDT1000平行光管,SAL光源,MTB-2D中温黑体,MRW-8旋转靶轮,一组靶标,1550nm带通滤波片,图像采集卡,MTB控制程序,SAL控制程序,TAS-S程序;
由于以下几个原因,太赫兹区域黑体的设计是一个技术挑战:a)需要THz/短波频谱带中高吸收率涂层的发射体以确保高发射率;b)由于THz/微波成像仪的低分辨率,所以需要大面积的黑体;c)需要很高的温度均匀性、温度稳定性和准确度,以便能够对THz/微波传感器进行准确校准。这些黑体的设计基于针对THz范围优化的特殊浇注材料吸收体涂层,大面积均匀发射面板和控制电子元件。MAB黑体具有不同发射器面积,不同温度范围的一系列版本,并针对不同的光谱带进行了优化。MAB黑体的特征在于具有良好的温度分辨率、温度稳定性、温度均匀性、温度不确定性和高发射率。所有这些功能使得MAB黑体被用作测试/校准太赫兹/亚太赫兹成像仪或其他这种辐射仪系统中的参考源的理想选择。精确热成像,基数参数一键优化,夜间监控,轻松无忧!
MTB系列黑体是精密的面源黑体,旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。 黑体散热器的温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500 mm,具体取决于型号。
应用MTB黑体可用于一系列可能的应用:1、在中温范围内测量热像仪的精度(已知温度的面源)。
2、监控系统SWIR成像仪
3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
蕞高温度:典型的蕞高温度为550℃。如果不需要这样的温度,则最高温度可以降低到350℃,并且提供更好的热均匀性。 消防热成像仪校准中,明策系统确保设备在高温环境下的测量准确性。上海热成像校准系统厂家
明策电子热成像校准系统支持多用户权限管理,保障数据安全性与隐私性。上海热成像校准系统准不准
FUT靶标为棋盘型靶标,采用大面积、均匀温度的辐射源,经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大,能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集,为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标,通常不能够进行调节高温度。操作较为简单,插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。
测试功能:FUT靶标可以用于以下测试:•对准误差(热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度)•旋转误差(热通道图像与可见通道图像之间的角度)•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图(与另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)•热像仪分辨率测试 上海热成像校准系统准不准
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